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AOI光学检测仪

ysi-12
  • ysi-12
ysi-12
产品详情

YSi-X

対象基板

尺寸

L100 × W50 ~ L560 × W460mm

贴装后的元件高度

上面40mm、下面80mm (生产线上使用时为40mm)

翘曲度

2.0 mm 以下

重量

2.0kg 以下

X射线检查

TypeHD

TypeHB

X射探测器

FOS平板式
高速型

直接转换式
耐用型

分辨率

7~54μm

18~54μm

最大视野

62 × 78mm

52 × 45mm

检查速度 2D-X

93.7㎠/sec

24.0㎠/sec

检查速度 3D-X

15.5㎠/sec

4.0㎠/sec

方式

采用X射线CT进行三维断层检查

X射线源

微焦点密封管

管电压

最大 130KV

检查区域
 (基板中央部)

3D: L510 × W460 mm、2D: L560 × W460 mm

光学检查

检查速度

0.4 秒 / 视野

分辨率

10µm / 19µm

照明

3层圆顶照明、上层R・G・B・红外线、中层R・G・B、下层R・G・B

摄像系统

数码彩色相机、远心镜头

检查区域

L560 × W460 mm

激光检查

分辨率 / 方式

5µm (高度方向) / 采用通过激光光束进行三角法测量的测距传感器

检查区域
 (基板中央部)

L510 × W360 mm

X射线泄漏量

0.2 µSv/h 以下

电源规格 /

三相 AC 200/208/220/240/380/400/416V ±10% 50/60 Hz / 0.4MPa以上

外形尺寸 / 重量

L1,710 × D1,883 × H1,705mm(突起部除外)/ 约 2,900kg





规格、外观如有变动,恕不另行通知。

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